彼爱姆BJ-XS便携式金相显微镜

彼爱姆BJ-XS便携式金相显微镜

  • 品牌 彼爱姆|BM
  • 型号 BJ-XS
  • 商品详情

    产品介绍

    BJ-XS型数码便携式金相显微镜可方便用于现场材料无法制作式样时需鉴别的各种金属与合金的组织结构进行现场鉴定

    可广泛应用于工厂金相试验室进行金属材料的分析研究与鉴定

    以及对材料处理后的金相组织结构的分析工作,也可用于玉器、陶瓷青铜器表面组织结构的观察分析。

     本仪器采用LED垂直照明,不采用220V交流电源,携带轻便,使用方便,使用户随心所欲自由观察。


    技术规格

    目镜

    类 别 放大倍数 视场直径(mm)
    平场目镜 10X Φ18
    12.5X (选购) Φ13

    物镜

    类 别 放大倍率 数值孔径(NA) 系统 工作距离(mm)
    物镜 10X 0.25 7.30
    40X 0.65 0.45

    3、机械筒长:160mm

    4、放大倍数:100X-400X

    5、调焦距离:25mm

    6、电源电压:DC4.2V 

    7、仪器尺寸:230×110×70(高×宽×厚)

    8、仪器重量:约750g

    9、数码相机系统:数码相机、90度数码适配镜、转接器


  • 梅特勒 电子天平XS104

    梅特勒 电子天平XS104

    技术参数:

    计数参数

    可读性 0.1mg

    最大称量值 120g

    最大称量值重复性(s) 0.1mg

    10g重复性(s) 0.07mg

    线性 ±0.2mg

    1/2最大称量1)四角误差 0.3mg

    灵敏度漂移 0.0004%

    灵敏度温度漂移2) 0.00015%/℃

    灵敏度稳定性3) 0.0002%/a

    典型称量时间4) 4s

    接口更新速率 23/s

    防风罩有效高度(mm) 235

    秤盘尺寸(mm) 78×73

    天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322

    1. 按照OIML76标准 2)温度范围10 …30℃ 3)灵敏度漂洗/年(天平首次使用后),激活FACT全自动校准技术 4)包括样品处理时间设置

    产品功能及介绍:

    XS超越系列专业型分析天平

    超越系列分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求,确保更高的生产效率并使操作更安全。

     

    * 采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果

    * 全自动校准技术(FACT) – 温度漂移触发的天平自动内校,内置两组砝码实现线性误差校准,确保称量结果的准确性

    * 变量程专利设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求

    * 革命性的网格称量盘(SmartGrid)、悬浮在称量室中的后挂称量设计,获得快速、稳定的称量结果

    * 易巧称量组件(ErgoClips),方便客户使用不同去皮容器进行称量

    * 触摸屏技术(Touch screen),方便天平称量菜单和参数设置

    * 可移动的显示控制终端,方便天平使用

    * 完全可拆卸的防风罩设计,实现天平的快速清洁

    * 内置RS232通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备

    * 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

    * 具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序

    * e-Loader II软件,实现更便捷的天平软件更新

    梅特勒         电子天平XS104

    梅特勒 电子天平XS64

    梅特勒 电子天平XS64

    技术参数:

    技术指标

    可读性: 0.1mg

    最大称量值: 61g

    最大称量值重复性(s): 0.1mg

    10g重复性(s): 0.07mg

    线性: ±0.2mg

    1/2最大称量1):四角误差 0.3mg

    灵敏度漂移: 0.0004%

    灵敏度温度漂移2): 0.00015%/℃

    灵敏度稳定性3): 0.0002%/a

    典型称量时间4): 4s

    接口更新速率: 23/s

    防风罩有效高度(mm) :235

    秤盘尺寸(mm): 78×73

    天平外形尺寸(W×D×H)(mm): 263×453×322

    1. 按照OIML76标准 2)温度范围10 …30℃ 3)灵敏度漂洗/年(天平首次使用后),激活FACT全自动校准技术 4)包括样品处理时间设置

     

     

    产品功能及介绍:

    XS超越系列专业型分析天平

    超越系列分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求,确保更高的生产效率并使操作更安全。

     

    * 采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果

    * 全自动校准技术(FACT) – 温度漂移触发的天平自动内校,内置两组砝码实现线性误差校准,确保称量结果的准确性

    * 变量程专利设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求

    * 革命性的网格称量盘(SmartGrid)、悬浮在称量室中的后挂称量设计,获得快速、稳定的称量结果

    * 易巧称量组件(ErgoClips),方便客户使用不同去皮容器进行称量

    * 触摸屏技术(Touch screen),方便天平称量菜单和参数设置

    * 可移动的显示控制终端,方便天平使用

    * 完全可拆卸的防风罩设计,实现天平的快速清洁

    * 内置RS232通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备

    * 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

    * 具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序

    * e-Loader II软件,实现更便捷的天平软件更新

     

    梅特勒         电子天平XS64

    皮肯仪器 氙灯双光束紫外可见分光光度计X8200S

    皮肯仪器 氙灯双光束紫外可见分光光度计X8200S

    氙灯双光束紫外可见分光光度计X8200S

     

    皮肯仪器         氙灯双光束紫外可见分光光度计X8200S 

     

    仪器特点:

    1. 快速便捷,仪器即开即用、无需预热。节约等待时间,仪器使用脉冲氙灯作为光源,10亿次闪烁的脉冲氙灯.
    2. 仪器采用8英寸大屏彩色触控屏,易于使用的图形交互界面设计。主机可独立完成光度测量、定量称量、光谱扫描、动力学、DNA/蛋白质测试,多波长测试。
    3. 使用PC软件反控仪器可获得更为丰富的扩展应用,软件遵循GLP/GMP实验室的使用规范,内置完善的用户管理、日志记录、数据存储追溯及报告输出功能;
    4. 强大的存储功能,能保存各种类型的数据和图谱,配有标准的USB接口,可直接导出数据进行编辑,测量和存储数据具有断电保持功能。
    5. 具备出色光学性能的独特设计,采用全息光栅单色器,数字化光电池检测器,杂散光和噪声低,测光精度和稳定性高。
    6. 超快扫描速度,轻松追踪化学反应过程,全波长驱动系统,开机自动校准,光源自动切换,自动调零。
    7. 仪器可选配无线蓝牙打印机,自动比色皿,薄膜样品架、试管比色皿架,恒温池架、光学积分球、反射附件、可变光程样品架、可变角度固体样品架等专用附件。

     

     

    技术参数:

    1显示器:8英寸大屏彩色触控屏

    2光学系统:双光束

    3波长范围: 190-1100nm:

    4光谱带宽: 0.5/1.0/2.0/4.0/5.0nm可调

    5波长精度: ±0.1nm(在656.1nm处),±0.3nm全区域

    7扫描速度: 高、中、慢

    8光度范围: -0.3-3A,0-9999C(0-9999F)

    9透射比准确度:±0.3% τ(0-100%τ)±0.002A(0~0.5A)±0.003A(0.5A~1A)

    10透射比重复性:0.15% τ(0-100%τ)±0.001A(0~0.5A)±0.0015A(0.5A~1A)

    11基线平直度:±0.0015A

    12杂散光:0.03%T(220nm,360nm)

    13噪声:±0.0002A (500nm预热后)

    14光源:闪烁式氙灯

    15接收器:进口硅光二极管

    16光度方式:透过率/吸光度/浓度/能量

    17主机功能:光度测量,定量分析,波长扫描,多波长测量,动力学分析,DNA/蛋白质测量

    18数据接口:联机/数据输出/打印

     

    皮肯仪器         氙灯双光束紫外可见分光光度计X8200S

    梅特勒 电子天平XS204

    梅特勒 电子天平XS204

    技术参数:

    技术指标

    < TABLE>

    可读性: 0.1mg

    最大称量值: 220g

    最大称量值重复性(s): 0.1mg

    10g重复性(s): 0.07mg

    线性: ±0.2mg

    1/2最大称量1):四角误差 0.3mg

    灵敏度漂移: 0.0004%

    灵敏度温度漂移2): 0.00015%/℃

    灵敏度稳定性3): 0.0002%/a

    典型称量时间4): 4s

    接口更新速率: 23/s

    防风罩有效高度(mm): 235

    秤盘尺寸(mm): 78×73

    天平外形尺寸(W×D×H)(mm): 263×453×322

    1. 按照OIML76标准 2)温度范围10 …30℃ 3)灵敏度漂洗/年(天平首次使用后),激活FACT全自动校准技术 4)包括样品处理时间设置

     

    产品功能及介绍:

    XS超越系列专业型分析天平

    超越系列分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求,确保更高的生产效率并使操作更安全。

     

    * 采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果

    * 全自动校准技术(FACT) – 温度漂移触发的天平自动内校,内置两组砝码实现线性误差校准,确保称量结果的准确性

    * 变量程专利设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求

    * 革命性的网格称量盘(SmartGrid)、悬浮在称量室中的后挂称量设计,获得快速、稳定的称量结果

    * 易巧称量组件(ErgoClips),方便客户使用不同去皮容器进行称量

    * 触摸屏技术(Touch screen),方便天平称量菜单和参数设置

    * 可移动的显示控制终端,方便天平使用

    * 完全可拆卸的防风罩设计,实现天平的快速清洁

    * 内置RS232通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备

    * 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

    * 具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序

    * e-Loader II软件,实现更便捷的天平软件更新

     

    梅特勒         电子天平XS204