产品介绍

BM-56XBD C 电脑工业检测显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。

作为高级正置金相显微镜用户在使用时能够体验其超强性能

可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测，可观察软厚的标本。

稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。

技术规格

1、目镜

2、物镜

3、显微镜的总放大倍率

4、观察头：30° 铰链式三目

5、机械筒长：无限远系统(∞)

6、放大倍数：50X-400X

（显微镜的总放大倍率：显微镜的总放大倍率=物镜倍率×镜筒系数倍率×目镜倍率）

7、转换器：带DIC插孔五孔转换器

8、瞳距调节范围：50-75mm

9、双层移动平台：

（1）平台尺寸：190mmX140mm

（2）移动范围：50×40mm

10、调焦机构：粗、微动同轴调焦,采用齿轮齿条传动机构，微动格值0.002mm

11、偏光装置：检偏器可360度转动，起偏器、检偏镜均可移出光路

12、滤色片：插板式滤色片（蓝、绿、中性）

13、照明系统：带孔径光栏和视场光栏，12V50W卤素灯，AC85V-230V，亮度可调节

14、检测工具：0.01mm测微尺

15、计算机成像系统：CCD摄像头、CCD适配镜、外置式图像视频采集卡(A/D)USB接口，(电脑自购)

产品介绍

BM-54XBD C 电脑工业检测显微镜配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场无限远长工作距离明暗物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好。是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业开发的，作为高级工业显微镜使用。可进行明暗场观察、落射偏光、DIC观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对硅片、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。

产品特点

1、采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术

2、拓展了物镜的复用技术，无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法

并在每一观察法中均提供高清晰的图像质量

3、采用非球面Kohler照明，增加观察亮度

4、WF10X(Φ25mm)超大视野目镜，长工作距离明暗场金相物镜

5、可插DIC微分干涉装置的转换器

技术规格

1、目镜

2、物镜

3、显微镜的总放大倍率

4、观察头：30°铰链式三目

5、转换器：带DIC 插孔明暗场五孔转换器

6、瞳距：50-75 mm

7、双层移动平台：平台尺寸：350×310 mm；移动范围：250×250 mm

8、滤色片：插板式滤色片（绿、蓝、中性）

9、调焦机构：粗微动同轴调焦,采用卤轮卤条传动机构；微动格值0.002mm

10、偏光装置：检偏镜可360°转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路

11、检测工具：0.01 mm测微尺

12、光源： 落射照明：带孔径光栏和视场光栏，卤素灯12V100W，AC85V-230V，亮度可调

13、计算机成像系统：CCD摄像头、CCD适配镜、外置式图像视频采集卡(A/D)USB接口，(电脑自购)