梅特勒 电子天平XSE105DU

梅特勒 电子天平XSE105DU

技术参数:

型号: XSE105DU

量程: 41.0 g; 120.0 g

可读性 :0.01 mg; 0.1 mg

最小称量值 :(USP),典型值 20.0 mg

稳定时间: 1.5 sec

线性误差:(典型值)± 0.2 mg

重复性: 0.01 mg

重复性:(校验砝码) 5.0 g

尺寸 高度 :322.0 mm

尺寸 宽度 :263.0 mm

尺寸 深: 482.0 mm

外壳; 压铸铝合金

秤盘外形尺寸 :宽度 73.0 mm

秤盘外形尺寸: 深 78.0 mm

合法交易: No

产品详细介绍

XSE205DU梅特勒电子分析天平特点:

StatusLight™ – 天平就绪

StatusLight 通过颜色直观地指明天平的状态。绿色表示就绪,黄色表示警告,红色表示错误。清晰显示的灯光表明天平是否已准备好开始执行称量任务。

消除电荷—样品无忧

一体化去静电装置固定到天平侧面,缓慢高效地去除静电荷,而不会导致称量室内干扰。结果更加准确,并可避免交叉污染。

RFID 解决方案

Smart Tag RFID 标签可实现滴定样品信息安全地从天平传输至滴定仪。SmartScan™在带有标记的移液器上检查测试和校准日期。内置的应用程序向导将指导您完成移液器检查过程。

XSE 分析天平非常努力工作

XSE 分析天平提供卓越的称量性能和品质保证以及符合人体工程学设计,是各种工作场所完美可靠的解决方案。

创新的状态指示灯 (StatusLight) 可免除您在称量方面的担忧。清晰可见的绿色指示灯让您知道何时开启安全,所有的测试都始终保持最新,天平水平且功能正常。

XSE 天平配备各种选件和多个连接选项,适用于不同的称量应用。

瑞士设计与制造,卓越的品质值得您信赖。

LabX – 称量过程尽在掌握

LabX 实验室软件提供关于天平触摸屏的灵活的SOP 用户向导。自动数据处理、计算和生成报告,避免抄写误差并确保完全可追溯性。

XSE205DU梅特勒电子分析天平产品特性

精确的结果

高分辨率技术

内部校正和灵敏度测试

加载 5% 时的重复性,10 µg

高效的操作

彩色触摸屏

采用 11 种语言的用户界面

易巧称量件 (ErgoClip) 用于直接加样

易于清洁

悬挂式网格秤盘 (SmartGrid)

动态图形显示 (SmartTrac) 指导的加样至目标

称量保证

图形化水平控制系统和分级别警告最小称量值 (MinWeigh) 保护测试管理器FACT 和 GWP 历史与用户及密码保护

状态指示灯 (StatusLight)

无缝过程

LabX 就绪

RFID 通信就绪

一体化去静电装置就绪

内置 RS232 接口

第 2 接口选件插槽

XSE205DU梅特勒电子分析天平选配件

去静电装置

一体化去静电装置可中和样品和容器上的静电荷,并且结构紧凑(内置在天平内部)。

易巧称量组件 (ErgoClips)直接加样至您的容器中。ErgoClips 在您的天平上固定一系列不同外形的容器。

Smart Tag RFID 标签

从您的天平通过滴定杯安全地传输滴定样品信息。

打印机

坚固耐用的 P-50 系列实验室打印机在纸上进行具有存档质量的打印输出和连续剥离标签。

EasyScan™

在带有射频识别 (RFID) 标记的移液器上检查测试和校准日期。当通过天平应用进行测试时,记录新的测试日期。

 

梅特勒         电子天平XSE105DU